SFB 951/3: Charakterisierung von Struktur und Morphologie von HIOS (TP Z02)

Dieses zentrale Projekt liefert Serviceuntersuchungen mittels verschiedener elektronenstrahlbasierter Techniken an, um Information über die atomare und elektronische Struktur von hybriden anorganisch/organischen Systemen (HIOS), welche innerhalb des SFB hergestellt werden, zu gewinnen. Mit Hilfe der verfügbaren Ausrüstung, die zum Teil während der zweiten Förderperiode angeschafft oder selbst gebaut wurde, soll eine große Bandbreite an Methoden der Abbildung, Beugung und Spektroskopie mit Elektronen, die einen großen Bereich an Elektronenstrahlenergien abdecken, eingesetzt werden. Dies beinhaltet die Abbildung der Struktur und chemischen Zusammensetzung mit atomarer Auflösung, die Kartierung der lokalen Kristallstruktur und Kristallorientierung strahlsensitiver HIOS bei Elektronenstrahlenergien von nur 5 keV, die Kartierung plasmonischer Eigenmoden, Elektronenstrahllithographie, sowie eine Reihe weiterer Methoden, die im Rasterelektronenmikroskop oder (Raster-)Transmissionselektronenmikroskop verfügbar sind.