SFB 951/2: HIOS – Charakterisierung von Struktur und Morphologie von HIOS (TP Z02)


Im Rahmen dieses Projektes wird dem SFB die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) als Methode für die strukturelle und chemische Analyse von HIOS zur Verfügung gestellt. Die Kenntnis der strukturellen und chemischen Eigenschaften ist Grundvoraussetzung für das Verständnis der elektronischen und optischen Eigenschaften von HIOS. In enger Zusammenarbeit mit den Partnerprojekten innerhalb des Sfb werden die modernsten TEM-Methoden mit einer Ortsauflösung im Nanometerbereich angewendet. HIOS stellen eine besondere Herausforderung für TEM-Untersuchungen dar, deshalb müssen vorhandene Techniken weiterentwickelt werden. Das Arbeiten mit minimierter Strahldosis wird dabei im Mittelpunkt stehen.


Projektleitung
Koch, Christoph T. Prof. PhD (Details) (Experimentelle Physik (Strukturforschung/Elektronenmikroskopie))

Laufzeit
Projektstart: 07/2015
Projektende: 06/2019

Forschungsbereiche
Experimentelle Physik der kondensierten Materie

Forschungsfelder
Festkörperphysik, Materialwissenschaften, Oberflächenphysik, Optik, Organische Chemie, Photonik, Physikalische Chemie, Physik molekularer Systeme, Theoretische Physik

Zuletzt aktualisiert 2021-28-07 um 13:58