SFB 951/1: HIOS - Transmission electron microscopy of HIOS (TP Z 2)

Im Rahmen dieses Projektes wird dem Sfb die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) als Methode für die strukturelle und chemische Analyse von HIOS zur Verfügung gestellt. Die Kenntnis der strukturellen und chemischen Eigenschaften ist Grundvoraussetzung für das Verständnis der elektronischen und optischen Eigenschaften von HIOS. In enger Zusammenarbeit mit den Partnerprojekten innerhalb des Sfb werden die modernsten TEM-Methoden mit einer Ortsauflösung im Nanometerbereich angewendet. HIOS stellen eine besondere Herausforderung für TEM-Untersuchungen dar, deshalb müssen vorhandene Techniken weiterentwickelt werden. Das Arbeiten mit minimierter Strahldosis wird dabei im Mittelpunkt stehen.