The characterization of structural disorder in thin films at elevated temperatures by spectroscopic methods
Journalartikel

Details zur Publikation

Autor*innen: Rabolt J, Rabe J, Brown C, Swalen J
Zeitschrift: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Jahr der Veröffentlichung: 1985
Bandnummer: 553


Autor*innen/Herausgeber*innen